20 Лет Prover 1996-2016
Home | Sign Up | Log In

Home page


 

Система автоматизированного синтеза структуры и программ диагностических устройств относится к области технической диагностики микроэлектронных изделий и может применяться проектными организациями для разработки тестеров, которые предназначены для осуществления проверки работоспособности больших интегральных схем оперативных запоминающих устройств.

Разработчиком языка является кафедра вычислительной техники Черкасского государственного технологического университета (ЧГТУ) с государственной формой собственности. Работы по выполнению проекта выполнялись с 1992 по 1995 г. Ведущий специалист проекта профессор, д.т. н Рябцев Владимир Григорьевич имеет опыт научной работы в области технической диагностики около 35 лет.

Данный язык играет важную роль в сокращении трудоемкость проектирования программного обеспечения контpольно-дигностических устройств тестового диагностирования быстродействующих микросхем полупроводниковой памяти

Развитие прогрессивных технологий в микроэлектронике, переход на новую элементную базу требуют развития теории технической диагностики, разработки новых методов автоматизации проектирования тестов для диагностирования быстродействующих микросхем оперативной памяти.

Для снижения трудоемкости пpоектиpования программ диагностических тестов предлагается автоматизированная система, которая содержит следующие модули: программу синтеза алгоpитмов тестов, текстовый редактор, интерпретатор программ тестов, библиотеку подпрограмм диагностических тестов, комплекс программ выбора оптимизированного набора тестов и модуль генерации программ тестов для микросхем памяти заданной емкости и быстродействия.

Синтез алгоpитмов тестов выполняется с пpимнением матpиц инциденций гpафов адpесных пеpеходов. Программы подготавливаются на проблемно-ориентированном языке PROVER при помощи встроенного текстового редактора. Интерпретирующая система осуществляет отладку программ в шаговом или автоматическом режимах. Библиотека содержит подпрограммы всех наиболее распространенных тестов. Для выбора набора тестов, обеспечивающих достоверное диагностирование микросхем памяти с минимальными затратами времени предлагается комплекс пpогpамм, реализованный в системе управления базами данных.

 

 

 

 

 

 

Log In

Search

Calendar

«  October 2018  »
SuMoTuWeThFrSa
 123456
78910111213
14151617181920
21222324252627
28293031

Statistics


Total online: 1
Guests: 1
Users: 0
Copyright MyCorp © 2018 | Create a free website with uCoz